一、概述

       SR-M 針對特定微小區(qū)域，可提供微米級的聚焦光斑，同時利用顯微物鏡定位測量點，從而獲取精準位置的厚度表征結(jié)果。

■ 光斑大小可進行定制，最小可達到10um；

■ 非接觸、非破壞測量；

■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析；

■ 配置靈活、支持定制化

二、產(chǎn)品特點

■ 采用高強度鹵素光源，光源穩(wěn)定性好；

■ 采用光機電高度整合一體化設(shè)計，體積小，操作簡便；

■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層；

三、產(chǎn)品應(yīng)用

        顯微膜厚儀廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。

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