顆粒粒度測(cè)量的性能特點(diǎn)：
1. 高效的光路系統(tǒng)：采用固態(tài)激光器和一體化光纖探頭搭建而成的光路滿(mǎn)足空間相干性的要求，提高了散射光信號(hào)的信噪比，激光器波長(zhǎng)為532nm，最大功率50mW。
2. 高靈敏度光子探測(cè)器：采用計(jì)數(shù)型光電倍增管，對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比；采用邊沿觸發(fā)模式對(duì)光子進(jìn)行計(jì)數(shù)，瞬間捕捉光子脈沖的變化。
3. 大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用以高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)光子相關(guān)器，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾，實(shí)現(xiàn)了大的動(dòng)態(tài)范圍，并保證了相關(guān)函數(shù)基線(xiàn)的穩(wěn)定性。
4. 高精度溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷裝置，采用自適應(yīng)PID控制算法，樣品池溫度控制范圍為0°~120°，精度達(dá)±0.1℃。
5. 剔除灰塵的影響：引入分位數(shù)檢測(cè)異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù)，并剔除異常值，提高粒度測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
6. 優(yōu)化的反演算法：采用優(yōu)化擬合累積反演算法計(jì)算平均粒徑以及多分散系數(shù)，基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布，粒度測(cè)量范圍為0.3nm-15μm，測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性均優(yōu)于1%。
Zeta電位測(cè)量的性能特點(diǎn)：
1. 利用光纖將發(fā)射光路和接收光路集成在一起，替代傳統(tǒng)電泳光散射裝置的光路，利用光纖傳輸參考光和散射光信號(hào)，使光信號(hào)不易受灰塵和外界雜的干擾，有效地提高了信噪比和抗干擾能力。
2. 先對(duì)散射光信號(hào)進(jìn)行頻譜估計(jì)，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍，然后使用線(xiàn)性調(diào)頻變換頻譜細(xì)化算法在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移，Zeta電位測(cè)量范圍達(dá)到-600mV~+600mV。
納米粒度和zeta電位儀
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